X-ray探測器

CCD 已經變得越來越先進，以滿足商業和科研市場不斷變化的需求。在科研市場中，CCD 已通過多種方式進行改進和優化，以在廣泛的應用中持續提供高性能的表現—從光譜學和半導體測試到生物成像和基因研究。

在X-ray應用上對科學級 CCD 的設計修改，最初是出於對 X 射線天文學應用的興趣，後來擴展到同步加速器設施中 X 射線成像和 X 射線光譜學的領域。CCD探測器經過改良，可檢測能量範圍從遠低於 100 eV 一直到 100 keV 或更高（整整三個數量級）的 X 射線，這使得對於需要高靈敏度與二維探測器的研究是非常寶貴的。這些設備用於許多 X 射線技術，包括 X 射線顯微鏡、X 射線微影製程、X 射線光譜學、X 射線晶體學和 X 射線非破壞性檢測。

在直接探測型相機中，CCD 直接暴露於入射的 X 射線光子，可以直接吸收光子。根據 X 射線的能量範圍，可以使用沒有抗反射 (AR) 塗層的背照式 CCD，也可以使用前照式或背照式深耗盡型 CCD。