~120-1100nm 探測範圍
-90℃ 深度制冷
支援多種CCD尺寸
靈活的讀出設計
95% 峰值QE
2e-讀出噪音
快速多端口讀出設計
ArcTec™ 深度制冷技術
高近紅外靈敏度
98% QE @ 900nm
75% QE @ 1000nm
永久真空保證
120 – 1100nm 探測範圍
-120℃ 液態氮低溫冷卻
4 MHz 讀出速度
超低暗電流
>95% QE
10 μm 像素尺寸
eXcelon™3 QE增強技術
超高速光譜讀出
<500 皮秒門控
1 MHz 重覆率
每秒 >10,000 個光譜
高線性增益
900 – 1700nm SWIR/NIR-II
低暗電流 (<500e-)
圖像品質優化
250fps @ 640×512 像素
900 – 1700nm SWIR/NIR-II
超低暗電流 (<40e-)
熱電式深度冷卻
針對長時間曝光進行優化
850 – 1550nm SWIR/NIR-II
最靈敏的SWIR相機
-190°C液態氮低溫冷卻
10e-暗電流
800 – 2200 nm 探測範圍
-100℃液態氮低溫冷卻
6600 光譜/秒
1024 x 1 像素
>95% QE 背照式 sCMOS
1.5e-讀出噪音
紫外線波段靈敏度
高讀出速度
高達 8k x 8k 像素
0.7e-讀出噪音
> 90% 的量子效率
深冷低暗電流
全真空相機
具有靈活散射角
2k x 2k 和 4k x 4k 像素
~10 eV 至 30 keV 探測範圍
~5 eV 至 30 keV 探測範圍
2k x 2k 和 4k x 4k 像素
1、2 和 4 多個讀出端口
-90℃ 低溫冷卻
~30 eV 至 20 keV 探測範圍
無抗反射塗層
多種CCD尺寸可選擇
可旋轉的 ConFlat 設計
~3 至 20 keV 探測範圍
真空鈹 (Be) 窗口
靈活雙放大器讀出設計
間接探測型
~3 至 20 keV 探測範圍
多種螢光屏可快速更換
高通量1:1光纖設計
高性能成像光譜儀
零像差成像光譜儀
高光通量785nm拉曼系統
集成零像差光譜儀系統
高分辨率三級拉曼系統