量測1nm 到 3mm? 沒問題!!

Filmetrics在全球已賣出超過五千台的膜厚量測儀,以其操作簡單及量測快速聞名。只需要點擊一下滑鼠,我們就可以通過分析薄膜如何反射光 (反射光譜) 來獲得薄膜特性。不論您是想要知道薄膜厚度、光學常數,還是要知道材料的反射率和穿透率。僅需要花費幾分鐘完成安裝。通過USB連接電腦,設備就可以在幾秒內得到量測結果。
我們能量測什麼?

– 薄膜厚度、折射率、反射率、穿透率量測

– 幾乎所有透明、半透明、甚至會吸光的薄膜都可以量測

– 單層或多層疊膜、平面或曲面上的薄膜

反射光譜 – 工作原理

當一個入射光從空氣穿透進入不同折射率的物質時,在其界面處將會有部分的光被反射,由於光的波動性導致從多個介面處的反射光彼此干涉,而使反射光的多波長光譜產生震盪的現象。

從光譜的震盪頻率,我們可以判斷不同界面的距離 (d) 進而得到材料的膜厚(越多的震盪代表較大的膜厚)。反射波形取決於薄膜的厚度與折射率。

~我們來看看氣泡薄膜是如何產生顏色~

F10-HC

F10-HC專門設計用於測量聚碳酸酯(polycarbonate)底材上的單層和多層(例如底漆/硬塗層)的厚度,更多應用在量測硬塗層(hardcoat)和防霧膜(anti-fog film)的厚度,配置量測探頭方便在曲面的物件上做量測。全球已有數百台 F10-HC膜厚量測儀使用在主要的汽車硬塗層公司中。

F20

F20是世界上最暢銷的桌上型薄膜厚度量測系統,提供多種附件和厚度覆蓋範圍。在全球有數百種應用,膜厚和折射率可以在不到一秒的時間內完成測量。不同型號的 F20 主要區別在於厚度測量範圍,而厚度測量範圍又取決於儀器的波長範圍。有多種配件選擇,可滿足絕大部分薄膜厚度量測需求。
Best-selling

F3-sX

F3-sX採用近紅外光(NIR)來測量膜層厚度,可測量許多半導體及不透明膜層的厚度,可測厚度達3mm。 此類厚膜,相較於較薄膜層表面較粗糙且不均勻。F3-sX系列配置10微米的測試光斑直徑,因而可以快速容易的測量其他膜厚測試儀器不能測量的材料膜層。 而且能在一秒內完成量測。

F40

F40是結合顯微鏡物鏡和彩色攝影機的膜厚量測儀,適合需要在待測樣品表面上進行微小限定區域的量測,或者其他應用要求小光斑時的最好選擇。多種物鏡倍數可供選擇,量測光斑尺寸最小可至1um,可選配手動或自動移動平台。多種配件選擇,可滿足絕大部分薄膜厚度量測需求。

F50

F50配置電動R-Theta移動平台,可快速輕鬆地自動量測繪製(auto mapping)樣品上薄膜厚度分佈圖。配置高精度、使用壽命長的移動平台,確保能夠做上數萬次的測量。系統中預設了許多極坐標形,例如同心圓、方形和線性的圖形模式,也可以編輯自己需要的量測點位,測量點沒有數量上的限制。

F54

F54基本架構與F50相同,但配置了如F40上的顯微鏡物鏡和彩色攝影機,可精確在微小區域上做量測。具有自動量測繪製功能。系統中預設了許多極坐標形,例如同心圓、方形和線性的圖形模式,也可以編輯自己需要的量測點位,測量點沒有數量上的限制。Chuck尺寸可支援直徑達 450 mm 的樣品。

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