F20 膜厚量測儀

無論您是在尋找材料的厚度、光學特性，還是只是測量材料的反射率和穿透率，F20 都能滿足您的需求。 透過 USB 連接只需幾分鐘即可完成設置，不到一秒鐘即可獲得結果。 歸功其模組化設計，F20 適用於各種應用：

• 測量薄膜材料的厚度、折射率、反射率和透射率：
   – 單層或多層薄膜疊層
   – 獨立式膜
   – 液膜或氣隙
• 在多種條件下進行測量，包括：
   – 在平面或曲面上
   – 光斑尺寸小至 20μm
   – 手動平台量測、XY 平台自動量測繪製或產線上配置